一．    儀器、探頭的校準：

1.        開機：按ON/OFF 鍵，停住2秒鐘，電源指示燈亮。儀器首先出現“漢威”注冊商標，然后進行儀器自檢。

2.        選定通道：按通道 鍵，按上下鍵選擇所需通道或連續按通道鍵可使通道遞增。

3.        參數的輸入：

3.1輸入探傷參數：按參數 鍵，即可將檢測面轉到參數列表的畫面，按上下鍵選擇所需改變參數位置，按確定鍵后，通過上下鍵改變參數，再確認退出修改，再通過上下鍵重復選擇下一項的修改。

3.2 選擇探頭類型，通過確認鍵改變探頭類型，要與所選的探頭匹配。例如：焊縫的探傷要選斜探頭。

3.3 調頻率，探頭規則，要與所用的探頭一致。

3.4 按參數退出。

4.    儀器的校準（用CSK-ⅠA的R50、R100的調校方法）

4.1 按自動調校鍵，顯示“請輸入材料聲速3240mm/S”。

4.2 再按確認鍵，顯示“請輸入起始距離：50mm”。

4.3 再按確認鍵，顯示“請輸入終止距離：100mm”。

4.4 再按確認鍵，顯示屏上顯示“自動校準”。

4.5 將探頭置于試塊找R100的*高回波（可按自動增益，移動零偏將R100回波移至可視范圍）

4.6  探頭未移動情況下，測量前沿值b值并記錄。

4.7  將探頭稍向R50偏移顯示出R50回波在40%以內。

4.8         探頭保持不動，按確認鍵，儀器完成自動校準。

5  測量探頭角度

5.1  按“K值”或“角度”下鍵

5.2  按下鍵顯示“自動測試探頭入射角度”

5.3  按確認鍵，顯示“請輸入測試孔孔徑”，用上下鍵調至50mm。

5.4  按確認鍵，顯示“請輸入測試孔孔深”，用上下鍵調至30mm。

5.5  將探頭置于¯50mm有機玻璃孔，可利用自動增益和波峰記憶鍵找到*大回波。

5.6  在退出波峰記憶狀態下，按確認鍵，儀器完成角度自動校準。

6  DAC曲線的制作

6.1  選定范圍，利用上下鍵調節至要覆蓋掃查聲程范圍。

6.2  按DAC鍵

6.3  按“制作”鍵

6.4  將探頭置于10mm深的標準反射體，用閘門A套住此波，利用自動增益找到*大回波。

6.5  按波峰記憶鍵，測試點值不閃動為采集成功，再按確認鍵，**點測試完成。

6.6  依此方法完成對其他點的測試。

6.7  連按兩次確認，結束DAC數據的采集。

6.8  觀察已生成的DAC曲線，必要時對曲線進行調整。

①．     按DAC 鍵先進入曲線制作功能菜單，按調整欄相對應的鍵進入曲線調整功能，此時該欄反顯，同時波幅曲線的**個測試點上顯示一個大三角形。

②．     測試點的選擇：反復按調整欄相對應的按鍵，可選擇其它的測試點來做調整點，被選擇的測試點上顯示一個大三角形。當選擇到*后一個測試點時，再按鍵，又回到**個測試點，如此反復。

③．     調整：選定一個測試點后，使用上下鍵調整此測試點的波幅曲線高度。

④  退出調整：按確認 鍵退出曲線調整功能，儀器自動保存調整后的曲線數據。

7  掃查靈敏度的輸入：

7.1  按增益，使其顯示在增益的上檔欄。

7.2  利用上下鍵，增加dB數至標準規定的評定dB數。

7.3  按參數鍵，當探傷參數光標顯示在“當前增益”位置時，按確認鍵，dB字數后面顯示一個磁盤圖標，表示此靈敏度已被記憶了。

8   漢威HS610E探傷儀傻瓜操作指南  其他參數的輸入：

8.1  工件厚度：根據工件實際厚度輸入匹配值。

8.2  探頭前沿：根據前面測試的b值輸入。

8.3  表面補償：輸入dB值。

8.4  輸入RL、SL、EL值。

8.5  按參數鍵退出，參數調整。

8.6  按“調校”至掃查檢驗狀態。

8.7  按參數 鍵，進入參數輸入，用確認鍵選定為參數鎖定。

9  漢威HS610E探傷儀傻瓜操作指南  探傷操作：

9.1  掃查找缺陷，用自動增益找到*高波峰，測長、定位、記錄波幅（用SL±ndB的方式），可用波峰記憶及自動增益鍵。

9.2  恢復掃查靈敏度：掃查過程中增益鍵在上檔位置，增益下檔位置為“0”時，按增益鍵，再按確認鍵，儀器自動回到掃查靈敏度。

9.3  掃查缺陷記錄。
 漢威HS610E探傷儀傻瓜操作指南  詳情咨詢：400-086-5217 董先生